郝正同,杨子义.KSi能带结构及态密度的第一性原理研究[J].井冈山大学自然版,2010,(5): |
KSi能带结构及态密度的第一性原理研究 |
FIRST-PRINCIPLES CALCULATIONS ON ELECTRONIC STRUCTURE OF KSI |
|
DOI: |
中文关键词: 第一性原理 电子能带结构 态密度 |
英文关键词: KSi |
基金项目:贵州省科学技术基金,贵阳市科技计划项目 |
|
摘要点击次数: 1809 |
全文下载次数: 0 |
中文摘要: |
采用基于第一性原理的密度泛函理论赝势平面波方法,对KSi的电子结构进行了理论计算,计算表明KSi是一种准直接带隙半导体,禁带宽度为1.42 eV.详细讨论了KSi在费米面附近的价带与导带的电子态密度的结构. |
英文摘要: |
|
查看全文
查看/发表评论 下载PDF阅读器 |
关闭 |
|
|
|